BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//NAE - ECPv6.15.20//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-ORIGINAL-URL:https://www.nae.fr
X-WR-CALDESC:Évènements pour NAE
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-Robots-Tag:noindex
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:Europe/Paris
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:+0100
TZOFFSETTO:+0200
TZNAME:CEST
DTSTART:20220327T010000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:+0200
TZOFFSETTO:+0100
TZNAME:CET
DTSTART:20221030T010000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:+0100
TZOFFSETTO:+0200
TZNAME:CEST
DTSTART:20230326T010000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:+0200
TZOFFSETTO:+0100
TZNAME:CET
DTSTART:20231029T010000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:+0100
TZOFFSETTO:+0200
TZNAME:CEST
DTSTART:20240331T010000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:+0200
TZOFFSETTO:+0100
TZNAME:CET
DTSTART:20241027T010000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=Europe/Paris:20230316T080000
DTEND;TZID=Europe/Paris:20230316T170000
DTSTAMP:20260421T224440
CREATED:20211208T072456Z
LAST-MODIFIED:20260303T182914Z
UID:74880-1678953600-1678986000@www.nae.fr
SUMMARY:National Reliability Technology Workshop - NRTW 2023 - 16/03/23
DESCRIPTION:Le NRTW (Normandy Reliability Technology Workshop) se veut un espace d’échanges et de rencontres des acteurs de la fiabilité. Une occasion unique de renforcer les synergies et le rayonnement européen de ce réseau.\nPrésentations techniques\, visites\, cas d’usages industriels & rendez-vous 1to1La température dans la fiabilité des systèmes & composants électroniques \n\nLa température joue un rôle indéniable dans la fiabilité des composants électroniques\, et par conséquent du système mécatronique dans lesquels ils sont embarqués. Plus particulièrement\, nous vous proposons de nous intéresser à la mesure et à l’exploitation de la température de jonction des composants. De quelle température de jonction parlons-nous ? Comme l’évaluer ? Avec quelle méthode ? Quels progrès ont été apportés et quelles sont les futurs moyens de mesure ? Et quelles solutions de management thermique adoptées pour contrôler la température des systèmes ? Nous apporterons le point de vue des laboratoires experts en la matière. \nEt pour quelle finalité (vieillissement\, analyse de défaillance\, calcul de fiabilité aléatoire\, évaluation de la durée de vie\, simulation\, essai de fiabilité …) ? Nous partagerons des cas d’étude des industriels\, utilisateurs finaux de ces composants ! \nC’est de tout cela dont nous voulons débattre avec vous au cours de ce symposium ! \nEnfin\, nous mettrons en œuvre au cours de ce symposium un temps d’échange avec la mise en place de Rencontres RTI (Recherche\, Technologies et Innovations) entre les visiteurs (BtoB). \nPour en savoir plus et vous inscrire – CLIQUEZ ICI\n\nProgramme\n\nMot d’accueil et collation de bienvenue\nPrésentation des techniques et moyens de mesure de la température de jonction — Vue d’ensemble des différentes techniques et moyens de mesure par les experts eux-mêmes + Q/R\nPause déjeuner\nRencontres RTI (Recherche\, Technologies et Innovations)\nPrésentation du Centre Français de Fiabilité\nQuelles mesures de TJ pour quel type de besoins industriels ? — Panel de cas d’étude N°01 présentés par les industriels\nConclusion du Symposium\nFin du Symposium\n\n\nIntervenants\n\nFranck DAVENEL\, DGA\nEric JOUBERT\, GPM\nPascal DHERBECOURT\, GPM\nBertrand BOUDART\, GREYC\nYannick GUHEL\, GREYC\nJean-Pierre FRADIN\, ICAM Toulouse\nMichel GIRAUDEAU\, IMdR\nFabio COCCETTI\, IRT Saint Exupéry\nRégis MEURET\, IRT Saint Exupéry\nNicolas DEGRENNE\, Mitsubishi Electric R&D Centre Europe\nGeoffroy MARTIN\, NextMove\nEric SERRE\, Renault Group\nLaurent DUPONT\, SATIE\nJulio BRANDELERO\, STMicroelectronics\nRenaud GILLON\, Sydelity\nLaurent CASTEL\, Thales Aliena Space\nNathalie JAUSSEIN\, Thales Aliena Space\nHichame MAANANE\, THALES LAS\nJean-Claude CLEMENT\, THALES TRT\n\n\nInfo pratique\nRestauration offerte par l’organisation. Réservation hôtel possible via la billetterie. \n \n\nPartager \n\n\n  \n    \n  \n \n\n  \n\n \nFacebook\n\n\n    \n    \n\n\n	\n	\n\n \nTwitter\n\n\n  \n    \n  \n \n\n  \n\n \nWhatsapp\n\n\n  \n    \n  \n \n\n\n\n\n\n \nLinkedin\n\n\n  \n    \n  \n \n\n  \n\n \nEmail
URL:https://www.nae.fr/agenda/national-reliability-technology-workshop-nrtw-2023-16-03-23/
LOCATION:Groupe de Physique des Matériaux\, Avenue de l'université\, Saint Etienne du Rouvray\, 76800\, France
CATEGORIES:Comité Recherche, Technologie et Innovation|Salons – Conferences
ATTACH;FMTTYPE=image/png:https://www.nae.fr/wp-content/uploads/2016/12/NRTW.png
END:VEVENT
END:VCALENDAR