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Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique.
Aujourd’hui retrouvez sa veille n°5 sur la thématique Fiabilité qui abordera :
- Evaluation of the Schottky Contact Degradation on the Temperature Transient Measurements in GaN HEMTs
- Ultraviolet-A LED Based on Quantum-disks-in-AlGaN-nanowires – Optimization and Device Reliability
- Electrical performance and reliability characterization of a SiC MOSFET power module with embedded decoupling capacitors
- Survey of high-temperature reliability of power electronics packaging components
- Etude de fiabilité des modules d’électronique de puissance à base de composant SiC pour applications hautes températures
- Comparing the performance of Si IGBT and SiC MOSFET switches in modular multilevel converters for medium voltage PMSM speed control
- On the Transient Thermal Characteristics of Silicon Carbide Power Electronics Modules
- The roadmap for development of piezoresistive micro mechanical sensors for harsh environment applications
Retrouvez toute cette veille ici : CLIQUEZ ICI (avec lien hypertexte)[:]
