Venez partager un temps d’échanges sur l’influence des radiations sur les composants électroniques avec la communauté CFF. Ce Rendez-Vous Fiabilité permettra d’aborder les impacts de ces irradiations et comment évaluer les défaillances qu’ils...
Séminaire du Centre Français de Fiabilité réservé aux membres du CFF. Il se déroulera sur le salon EUROSATORY Programme à venir Partager Facebook Twitter Whatsapp Linkedin...
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : STMicroelectronics lance ses premiers transistors de puissance en...
De par leurs caractéristiques intrinsèques, les semi-conducteurs à grand gap, qu’ils soient à base de carbure de silicium (SiC) ou de nitrure de gallium (GaN), sont au cœur de toutes les attentions. Ils sont en effet capables de traiter des tensions nettement plus...
This study deals with the non-destructive test methods applied in the industry for SiC power metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs). Scanning acoustic tomography (SAT) is used for testing SiC power MOSFETs, which are widely used in high-power...
