Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique.
Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la Fiabilité qui abordera :
- Mechanical and thermoelectric properties of intragranular SiCNanoparticle/Mg2Si composites
Source : www.scopus.com – 2019-02-15
Lire la suite - Effects of graphite filler on the thermophysical properties of 3D C/SiC composites
Source : www.scopus.com – 2019-01-05
Lire la suite - Transphorm ships over a quarter of a million GaN power devices, reaffirms high volume scalability
Source : www.i-micronews.com – 2018-12-13
Lire la suite - Development of world’s first vertical Ga2O3 transistor through ion implantation doping
Source : www.eurekalert.org – 2018-12-12
Lire la suite - Recent Investigations of Phase Change Materials Use in Solar Thermal Energy Storage System
Source : www.hindawi.com – 2018-12-12
Lire la suite - Mitsubishi Electric and the University of Tokyo reveal new mechanism for enhancing reliability of SiC power semiconductor devices
Source : www.automotiveworld.com – 2018-12-04
Lire la suite - Contribution aux analyses de fiabilité des transistors HEMTs GaN; exploitation conjointe du modèle physique TCAD et des stress dynamiques HF pour l’analyse des …
Source : hal.laas.fr – 2018-12-01
Lire la suite - Operation Mechanism of GaN-based Transistors Elucidated by Element-Specific X-ray Nanospectroscopy
Source : www.scopus.com – 2018-12-01
Lire la suite - Reliability of GaN power transistors (Keynote Session)
Source : www.researchgate.net – 2018-11-01
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