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Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique.

Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera :

  • Significant improvement of reverse leakage current characteristics of Si-based homoepitaxial InGaN/GaN blue light emitting diodes
    Source : www.scopus.com – 2019-12-01
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  • Neutron detection performance of gallium nitride based semiconductors.
    Source : www.ncbi.nlm.nih.gov – 2019-11-26
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  • 500W DC-DC converter module targets GaN RF power amplifiers designs
    Source : www.eenewspower.com – 2019-11-21
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  • GMM-MUD: An Effective Multiuser Detection Algorithm for DS-UWB-Based Space Formation Flying Systems
    Source : www.hindawi.com – 2019-11-20
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  • Nexperia launches GaN FET for automotive applications
    Source : www.eenewsautomotive.com – 2019-11-20
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